Новости науки | ||||
09.12.03. Наблюдение интерференции горячих электронов в полупроводниках. | ||||
Сформировав две "щели" внутри сложной полупроводниковой
гетероструктуры, японские ученые смогли наблюдать интерференцию электронных волн в твердом теле.
Волновые свойства материи - кого в настоящее время можно этим удивить? Особенно, если речь идет
о столь тривиальном объекте, как электроны. В последние годы научились наблюдать волновые свойства
сложных молекул, в частности, биомолекул , появились новые
исследовательские методики, использующие волновые свойства частиц (такова, например, нейтронная голография ), а электроны
уже десятки лет исправно работают на ученых (электронная микроскопия, электронная голография ...). Все это так,
если бы не одно "но" - японские ученые провели эксперимент по наблюдению интерференции не для
свободных электронов, а электронов в твердом теле [1].
Исследователи из Токийского технологического института наблюдали интерференцию электронов в
опыте с двумя щелями, когда и щели, и электроны находились внутри исследуемой твердотельной
структуры. Причем в отличие от проведенных ранее экспериментов с двумерным электронным газом,
японские ученые использовали трехмерную геометрию и наблюдали интерференцию "горячих
электронов" (электронов, энергетическое распределение которых существенно отличается от
равновесного при данной температуре). Горячие электроны - весьма капризный объект для такой цели:
для наблюдения интерференционной картины, очевидно, требуется иметь дело с когерентными
электронными волнами, тогда как горячие электроны "так и норовят" изменить свою дебройлевскую
длину волны, передавая энергию кристаллической решетке (испуская фононы ). Поскольку характерный
масштаб времен тут - сотни фемтосекунд (и для экспериментов, о которых речь пойдет ниже,
определяемая рассеянием на оптических фононах длина фазовой когерентности в области за щелями
(рис.1) оценивалась примерно в 130 нм), имеются достаточно жесткие требования к структурам, в
которых можно пытаться наблюдать интерференцию. Однако японским ученым удалось создать
требуемую гетероструктуру.
Многослойная полупроводниковая структура (рис. 1, внизу) была выращена с помощью метода
газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Пользуясь тем, что положение дна зоны
проводимости для различных полупроводников отличается (рис. 1, вверху), исследователи совместили в
одной структуре и "источник" горячих электронов, и две щели (ширина каждой из них - 12 нм,
расстояние между их центрами составляло 25 нм, а длина - 2 мкм). Щели были "прорезаны" в слое InP
(толщиной 10 нм) с помощью электронной литографии (место стравленного InP при последующем росте
занял GaInAs и, таким образом, в потенциальном барьере для электронов образовалось два "провала").
Эксперименты проводились при температуре 4.2 K. Электроны из эмиттера (рис.1, внизу) через
туннельно-прозрачный барьер поступали в слой твердого раствора GaInAs толщиной 50 нм, формируя
плоскую электронную волну, которая падала на щели, "прорезанные" в достаточно толстом барьере InP.
После прохождения щелей электроны (c дебройлевской длиной волны порядка 20 нм) оказывались в слое
GaInAsP (толщиной190 нм) и результирующая интерференционная картина регистрировалась с помощью
массива металлических электродов, нанесенных на поверхность структуры (ширина отдельного
электрода была менее 80 нм).
Сигнал снимался только с центрального электрода, а для "развертки" интерференционной картины
использовалось магнитное поле. На рис.2 показаны результаты измерений - изменение тока коллектора в
зависимости от магнитного поля, являющееся результатом интерференции электронных волн. В
идеальном случае следовало бы ожидать, что максимум тока должен наблюдаться при нулевом поле, но
никакой интересной физики в наблюдающемся смещении максимума нет: оно обусловлено банальным
смещением положения электрода относительно щелей (центра электрода находится не точно над щелями,
как изображено на схеме структуры в нижней части рис.1.).
1. Kazuhito Furuya, Yasunori Ninomiya, Nobuya Machida, and Yasuyuki Miyamoto. Phys.Rev.Lett., v.91,
216803 (2003).
| ||||
|